Das PXIe-6570 mit Digital Pattern Editor bietet Herstellern von RFICs, PMICs, MEMS-Bauelementen und Mixed-Signal-ICs eine Alternative zu den geschlossenen Architekturen herkömmlicher automatisierter Halbleiterprüfsysteme. Es bietet die nötigen Funktionen, um die ICs für Wireless- und IoT-Anwendungen zu einem effizienten Preis-Leistungs-Verhältnis pro Pin zu testen. Das Modul erlaubt die Ausführung von Testpatterns mit 100 MVektoren pro Sekunde und bietet unabhängige Source- und Capture-Engines sowie parametrische Funktionen für Spannung und Strom auf bis zu 256 synchronisierten digitalen Pins in einem einzelnen Subsystem. Dank der Offenheit der PXI-Plattform und des STS lässt sich eine beliebige Anzahl von Geräten hinzufügen.
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