Rohde & Schwarz setzt seine Reihe virtueller Bildungsevents mit den Electronic Design and Test Days fort. Die Veranstaltung findet am 13. und 14. April 2021 statt und bietet vielfältige Einblicke in die Themenfelder digitale Hochgeschwindigkeits-Designs und Leistungselektronik. Hochwertige Präsentationen, technisches Wissen, Ressourcen und Anwendungsdemos erschliessen den Teilnehmern kostenlos eine breite Palette spannender und aktueller Themen.
Die Veranstaltung wird vom Rohde & Schwarz Stammhaus – natürlich in virtueller Form – ausgerichtet. Zu den Highlights gehören Live-Keynotes von führenden Experten aus der Industrie und Spezialisten von Rohde & Schwarz. Das Event deckt eine Vielzahl aktueller Themen ab – die entsprechenden Informationen sind am jeweiligen Tag durchgehend in einem virtuellen Messe- und Bildungsbereich abrufbar. Darüber hinaus haben Teilnehmer die Möglichkeit, mit Experten von Rohde & Schwarz zu chatten und einen virtuellen Messestand mit Anwendungsdemos zu besuchen.
Die Veranstaltung gliedert sich in zwei Tage. Am 13. April werden digitale Hochgeschwindigkeits-Designs behandelt und am 14. April steht die Leistungselektronik auf der Agenda. An beiden Tagen findet die Veranstaltung von 09:00 Uhr bis 17:00 Uhr statt. Der Themenbereich digitale Hochgeschwindigkeits-Designs bringt den Teilnehmern die neuen Werkzeuge der SIPI-Toolbox (Signal Integrity, Power Integrity) sowie deren Bedeutung näher. Außerdem werden Erfolgsstrategien für Validierung, Fehlerbeseitigung, Konformitätsprüfung und Zertifizierung behandelt. Beim Themenschwerpunkt Leistungselektronik stehen Bewertung und Test von Halbleiterbauelementen, die Schaltanalyse, das Design von Spannungswandlern, Batterien, Batteriemanagementsysteme (BMS) und die EMI-Fehlersuche für Bauelemente der Leistungselektronik im Mittelpunkt.
Zum Konferenzprogramm gehören Keynote-Vorträge, bei denen die Teilnehmer Gelegenheit erhalten, ihre Fragen an anerkannte Branchenexperten zu richten. Beide Tage beginnen mit einem Einführungsvortrag eines Experten von Rohde & Schwarz. Am ersten Tag eröffnet Jim Drewniak, President von Clear Signal Solutions, die Konferenz mit einer Keynote zum Thema Signal- und Leistungsintegrität in digitalen Hochgeschwindigkeits-Designs. Die einleitende Keynote am zweiten Tag behandelt das Thema “Silicon Carbide – the semiconductor material taking over high voltage power conversion”. Referent ist Dr. Chris Dries, President und CEO von United SiC. An beiden Tagen sind Pausen vorgesehen, in denen die Teilnehmer den virtuellen Ausstellungsbereich besuchen können.
Weitere Informationen zur Veranstaltung, zum Programm und zur Anmeldung finden sich unter:
https://www.rohde-schwarz.com/_254476.html
